Odborné zaměření

• nedestruktivní metody testování; zpracování signálů; zpracování obrazu; volumetrické data; strojové učení; klasifikátory; hluboké učení; konvoluční neuronové sítě; segmentace obrazu; klasifikace obrazu; Bayesovská optimalizace; materiálové inženýrství; predikce vlastností; 3D tisk; mikrokontroléry - Arduino, ESP32, Raspberry Pi; Akustická emise; charakterizace tahových a smykových poruch; lokalizace AE událostí; akustická emise;