English

Katalog předmětů

Identifikace

KódDD62
NázevTeorie spolehlivosti, pružnosti, plasticity a porušování
Course nameTheory of elasticity, plasticity and failure

Zařazení

Zařazení ve studijních programech

Rozsah výuky

Přednášky3 [hodiny/týden], nepovinná
Cvičení0 [hodiny/týden], povinná

Zabezpečení výuky

ÚstavÚstav stavební mechaniky
GarantDrahomír Novák

Obsahové informace

Lineární lomová mechanika LEFM, lomová procesní zóna, možnosti LEFM, nelineární lomová mechanika, lomově-mechanické parametry materiálu
Problematika lokalizace přetvoření, falešná citlivost na síť, omezovače lokalizace, crack band model, nelokální mechanika kontinua.
Konstitutivní vztahy pro beton a jiné kvazikřehké materiály
Vliv velikosti na únosnost (rozměrový efekt), energetické a statistické příčiny, rozbor vlivu velikosti u pevnosti v tahu za ohybu.
Prezentace modelování pomocí software nelineární lomové mechaniky ATENA a software SARA (stochastická lomová mechanika).

Harmonogram přednášky

  • 1. Typy materiálů z hlediska změkčení, úvod do konstitutivních materiálových modelů
  • 2. Lineární lomová mechanika LEFM, lomová procesní zóna, možnosti LEFM
  • 3. Nelineární lomová mechanika, lomově-mechanické parametry materiálu
  • 4. Problematika lokalizace přetvoření, falešná citlivost na síť, omezovače lokalizace
  • 5. Crack band model, nelokální mechanika kontinua
  • 6. Konstitutivní vztahy pro beton a jiné kvazikřehké materiály
  • 7. Fracture-plastic model, mikroploškový (microplane) model
  • 8. Vliv velikosti na únosnost (rozměrový efekt), energetické a statistické příčiny
  • 9. Rozbor vlivu velikosti u pevnosti v tahu za ohybu
  • 10. Základy mechaniky poškození
  • 11. Prezentace modelování pomocí software nelineární lomové mechaniky ATENA
  • 12. Stochastická lomová mechanika
  • 13. Prezentace modelování pomocí systému SARA
Metoda konečných prvků, pružnost, plasticita, mechanika materiálu, numerické metody.

Základní literatura předmětu

A. Haldar, S. Mahadevan: Reliability Assessment Using Stochastic Finite Element Analysis, John Wiley and Sons, 2000